一种平面光学元件的面形偏差测量方法，首先由摄像头将标准样本图像数据进行采集，通过USB接口将采集到的标准样本图像数据传送给DSP进行数字信号处理；用处理后的图像数据对BP神经网络进行训练，以确定采用的BP神经网络；由摄像头将被测平面光学元件的干涉条纹图像数据进行采集，通过USB接口将采集到的图像数据传送给DSP进行数字信号处理，得到的测量数据送入确定的BP神经网络进行计算；BP神经网络输出面形偏差值，并送入DSP的缓存区；再由DSP将该面形偏差值送入显示装置进行显示。本发明由于操作者能够方便地观察干涉条纹图像并进行光路调节，从而降低检测成本；测量结果不受目视判读者影响，可有效提高测量精度。 

发明利号：200910196710.5   申请日：2009/9/29   发明人： 江晓军 刘正国